• Home
  • Über uns
  • Publizieren
  • Katalog
  • Newsletter
  • Hilfe
  • Account
  • Kontakt / Impressum
Dissertation - Publikationsreihe - Tagungsband - Fachbuch - Vorlesungsskript/Lehrbuch - Zeitschrift - CD-/DVD-ROM - Online Publikation
Suche im Gesamtkatalog - Rezensionen - Lizenzen
Newsletter für Autoren und Herausgeber - Neuerscheinungsservice - Archiv
Warenkorb ansehen
Katalog : Details

Martin Bretschneider

Charakterisierung von Mikrostrukturen mit strukturorientierten Rauheitskenngrößen und Identifikation funktionsrelevanter Kenngrößen durch Reibwert-Korrelation

ISBN:978-3-8322-9750-3
Reihe:Institut für Mess- und Regelungstechnik der Leibniz Universität Hannover
Herausgeber: Prof. Dr.-Ing. E. Reithmeier
Hannover
Schlagwörter:3D-Rauheitsmesstechnik; Mikrostrukturierung; tribologisch relevante Kenngrößen
Publikationsart:Dissertation
Sprache:Deutsch
Seiten:142 Seiten
Abbildungen:62 Abbildungen
Gewicht:209 g
Format:21 x 14,8 cm
Bindung:Paperback
Preis:45,80 € / 91,60 SFr
Erscheinungsdatum:Januar 2011
Kaufen:
  » zzgl. Versandkosten
Download:

Verfügbare Online-Dokumente zu diesem Titel:

Sie benötigen den Adobe Reader, um diese Dateien ansehen zu können. Hier erhalten Sie eine kleine Hilfe und Informationen, zum Download der PDF-Dateien.

Bitte beachten Sie, dass die Online-Dokumente nicht ausdruckbar und nicht editierbar sind.
Bitte beachten Sie auch weitere Informationen unter: Hilfe und Informationen.

 
 DokumentAbstract / Kurzzusammenfassung 
 DateiartPDF 
 Kostenfrei 
 AktionAnzeigen der Datei - 18 kB (18919 Byte) 
 AktionDownload der Datei - 18 kB (18919 Byte) 
     
 
 DokumentGesamtdokument 
 DateiartPDF 
 Kosten11,45 EUR 
 AktionZahlungspflichtig kaufen und anzeigen der Datei - 2,5 MB (2668524 Byte) 
 AktionZahlungspflichtig kaufen und download der Datei - 2,5 MB (2668524 Byte) 
     
 
 DokumentInhaltsverzeichnis 
 DateiartPDF 
 Kostenfrei 
 AktionAnzeigen der Datei - 151 kB (154582 Byte) 
 AktionDownload der Datei - 151 kB (154582 Byte) 
     

Benutzereinstellungen für registrierte Online-Kunden

Sie können hier Ihre Adressdaten ändern sowie bereits georderte Dokumente erneut aufrufen.

Benutzer:  Nicht angemeldet
Aktionen:  Anmelden/Registrieren
 Passwort vergessen?
Weiterempfehlung:Sie möchten diesen Titel weiterempfehlen?
RezensionsexemplarHier können Sie ein Rezensionsexemplar bestellen.
VerlinkenSie möchten diese Seite verlinken? Hier klicken.
ZusammenfassungIn einer DFG-Forschergruppe wird untersucht inwiefern das Modifizieren der Oberfläche von Metallen die tribologischen Eigenschaften verändern kann. Hierzu werden durch zwei verschiedene Produktionsverfahren Mikrostrukturen eingebracht: Mit einem Spanprozess werden deterministische Strukturen und mit dem atmosphärischen Plasmaspritzen werden stochastische Strukturen erzeugt.
Für eine schnelle Erfassung dieser Strukturen werden optische Rauheitsmessgeräte verwendet. Hiermit kann eine große Anzahl von Mikrostrukturen gemessen werden. Diese Messdaten werden mit verschiedenen Messdatenvorverarbeitungsschritten wie die Bestimmung der Referenzebene und Segmentierung der einzelnen Mikrostrukturen durch das Schwellwertverfahren oder die Wasserscheidentransformation aufbereitet.
Zur Beschreibung der Mikrostrukturen werden verschiedene Kenngrößen wie Volumen, Fläche, Tiefe, mittlere Rauheit innerhalb und außerhalb der Strukturen, Porositäten und weitere berechnet. Anhand dieser Kenngrößen können bereits Aussagen über die Produktionsprozesse gemacht werden.
Diese Kenngrößen werden mit tribologischen Experimenten verglichen. Durch diese Korrelation werden funktionsrelevante Kenngrößen identifiziert: Bei deterministischen Strukturen hat die Tiefe einen Einfluss, denn bei hohen Relativgeschwindigkeiten verringern tiefe Strukturen den Reibwert, bei geringen Geschwindigkeiten vergrößern sie diesen. Stochastische Strukturen mit einer größeren Fläche zeigen einen kleineren Reibwert, manche stochastische Strukturen zeigen bei kleineren Tiefen einen geringeren Reibwert und eine geringere mittlere Rauheit zwischen den stochastischen Strukturen verringert den Reibwert ebenfalls.