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Stefan Johannes Noll
Prozessabhängigkeit der Feldeffektbeweglichkeit und Stabilität der Einsatzspannung von 4H-SiC MOS Transistoren
Band 2016,3
ISBN 978-3-8440-4872-8, Deutsch, Paperback,
168 Seiten,
21 x 14,8 cm, 231 g, 77 Abbildungen,
48,80 € / 61,10 SFR
November 2016
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