Katalog : Details
 | Christian StrengerHerstellung und Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Kondensatoren und Feldeffekttransistoren auf 4H-Siliciumcarbid |
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| ISBN: | 978-3-8440-3495-0 |
| Reihe: | Erlanger Berichte Mikroelektronik Herausgeber: Prof. Dr.-Ing. H. Ryssel und Prof. Dr. rer. nat. L. Frey Erlangen |
| Band: | 2015,2 |
| Schlagwörter: | Transistor; SiC; EELS; MOSFET |
| Publikationsart: | Dissertation |
| Sprache: | Deutsch |
| Seiten: | 194 Seiten |
| Abbildungen: | 38 Abbildungen |
| Gewicht: | 287 g |
| Format: | 21 x 14,8 cm |
| Bindung: | Paperback |
| Preis: | 48,80 € / 61,00 SFr |
| Erscheinungsdatum: | März 2015 |
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| Zusammenfassung | Die vorliegende Arbeit befasst sich mit der Herstellung und der Charakterisierung von Metall-Oxid-Halbleiter-Kondensatoren und Feldefekttransistoren auf der Siliciumseite von 4H-Siliciumcarbid (4H-SiC). |