Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und MikromechatronikHerausgeber  www.tep.ei.tum.de  www.lte.ei.tum.de  |
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1. | Yvonne Gawlina-Schmidl Analyse ioneninduzierter Ausfallmechanismen in hochintegrierten CMOS-Speicherzellen Band: 49 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-3831-6, Deutsch, Paperback, 144 Seiten, 21 x 14,8 cm, 213 g, 9 Abbildungen, 45,80 € August 2015 In der vorliegenden Arbeit werden zwei Arten von nichtdestruktiven, ionenstrahlungsbedingten Ausfällen, Soft Errors und Single Event Latchup, von CMOS-Speicherzellen mit numerischen 3D-Simulationen analysiert. ... mehr ... | 45,80 € |
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2. | Martin Niessner Modellierung und Simulation des elektro-fluid-mechanisch gekoppelten Verhaltens von Mikrobauteilen auf der Systemebene Band: 48 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-3827-9, Deutsch, Paperback, 216 Seiten, 21 x 14,8 cm, 320 g, 91 Abbildungen, 49,80 € August 2015 auch als Online-Publikation verfügbar Der Entwurfsprozess für Mikrosensoren und -aktoren ist bisher nicht durchgängig in einer Simulationsumgebung abgebildet, da sich der Übergang von der Ebene der feldtheoretischen Kontinuumsbeschreibung ... mehr ... | 49,80 € |
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3. | Teresa Reutter Charakterisierung und Optimierung piezoelektrischer MEMS-Mikrophone mittels physikalischer Modellierung und Simulation Band: 47 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-3490-5, Deutsch, Paperback, 146 Seiten, 21 x 14,8 cm, 215 g, 2 Abbildungen, 45,80 € März 2015 auch als Online-Publikation verfügbar Es wird ein neuartiges Design für ein Piezo-MEMS-Mikrophon entwickelt, dessen Membran herstellungsbedingte intrinsische Spannungen kompensiert. Die Optimierung stützt sich dabei auf ein kalibriertes elektromechanisches ... mehr ... | 45,80 € |
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4. | Christoph Weiß Höhenstrahlungsresistenz von Silizium-Hochleistungsbauelementen Band: 46 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-3464-6, Deutsch, Paperback, 108 Seiten, 21 x 14,8 cm, 158 g, 45 Abbildungen, 45,80 € März 2015 auch als Online-Publikation verfügbar Halbleiter-Hochleistungsbauelemente können durch den Einschlag eines kosmischen Teilchens wie z.B. eines Neutrons zerstört werden. In dieser Dissertation wird ein physikalisches Modell vorgestellt, das ... mehr ... | 45,80 € |
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5. | Josef Kiermaier Integrated Nanomagnetic Logic System in Perpendicular Magnetic Media Band: 45 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-2492-0, Englisch, Paperback, 162 Seiten, 21 x 14,8 cm, 240 g, 54 Abbildungen, 48,80 € Januar 2014 auch als Online-Publikation verfügbar As CMOS scaling will face fundamental limits, more and more attraction is dedicated to beyond CMOS technologies. A very promising candidate in this scope is Nanomagnetic Logic (NML), which exploits the ... mehr ... | 48,80 € |
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6. | Philipp Kruppa Entwicklung eines chronocoulometrischen hoch integrierten CMOS-DNA-Wasseranalysesystems Band: 44 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-1995-7, Deutsch, Paperback, 182 Seiten, 21 x 14,8 cm, 270 g, 88 Abbildungen, 48,80 € Juli 2013 auch als Online-Publikation verfügbar Es wurde ein hoch integriertes CMOS-DNA-Wasseranalysesystem entwickelt, dass über 6 Anschlusspins digital betrieben werden kann. | 48,80 € |
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7. | Andreas Mucha CMOS Integrated Impedance Sensor Arrays for Cell Adhesion Measurement Band: 41 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-1734-2, Englisch, Paperback, 178 Seiten, 21 x 14,8 cm, 264 g, 59 Abbildungen, 48,80 € März 2013 auch als Online-Publikation verfügbar This thesis presents a CMOS integrated sensor for impedance measurements with cultured cells. A model of the impedance under study, comprising contributions of the electrode, the electrolyte, and the ... mehr ... | 48,80 € |
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8. | Stefan Drapatz Parametric Reliability of 6T-SRAM Core Cell Arrays Band: 43 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-1009-1, Englisch, Paperback, 172 Seiten, 21 x 14,8 cm, 254 g, 124 Abbildungen, 48,80 € Mai 2012 auch als Online-Publikation verfügbar The increasing integration density of microelectronic circuits in combination with nonconstantly scaled supply voltages results in higher electric fields in MOS transistors. This is one central source ... mehr ... | 48,80 € |
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9. | Christoph Friederich Control of Harmful Effects during the Program Operation in NAND Flash Memories Band: 42 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-0586-8, Englisch, Paperback, 166 Seiten, 21 x 14,8 cm, 245 g, 66 Abbildungen, 48,80 € Dezember 2011 auch als Online-Publikation verfügbar The increase in data density of NAND Flash memories, which evolved into the dominant mass storage technology in mobile applications, is limited by intrinsic variations and growing harmful effects. In ... mehr ... | 48,80 € |
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10. | Pekka Sipilä Real-Time Magnetic Field Monitoring in Magnetic Resonance Imaging Band: 40 Reihe: Selected Topics of Electronics and Micromechatronics Ausgewählte Probleme der Elektronik und Mikromechatronik ISBN 978-3-8440-0522-6, Englisch, Paperback, 194 Seiten, 21 x 14,8 cm, 287 g, 67 Abbildungen, 48,80 € November 2011 auch als Online-Publikation verfügbar mehr ... | 48,80 € |
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